矽溶膠是納米二氧化矽的分(fēn)散液。

矽溶膠的組成比較簡單，主要是納米二氧化矽粒子和分(fēn)散介質(zhì)。因此矽溶膠的粒徑大小(xiǎo)就是一個特别重要的指标。目前市場上矽溶膠粒徑大約在5nm-120nm範圍。

矽溶膠的粒徑大小(xiǎo)有(yǒu)以下幾種測量方法：

（1）滴定法：按照行業标準HG/T2521-2008進行粒徑的滴定檢測，該方法的測量原理(lǐ)是利用(yòng)氫氧化鈉标準溶液滴定矽溶膠粒子表面的矽羟基含量，然後根據經驗公(gōng)式計算出矽溶膠的粒徑大小(xiǎo)。這種方法比較簡便，不需要購(gòu)買昂貴的檢測儀器。

（2）激光粒度儀法：激光粒度儀是通過矽溶膠粒子的衍射或散射光的空間分(fēn)布（散射譜）來分(fēn)析矽溶膠粒徑的大小(xiǎo)，使用(yòng)非常簡便、快捷。但是不同品牌的儀器測量結果差别較大。

（3）電(diàn)子顯微鏡法：采用(yòng)透射電(diàn)子顯微鏡（TEM）和掃描電(diàn)子顯微鏡（SEM）均可(kě)。電(diàn)子顯微鏡可(kě)以直接觀察到矽溶膠粒徑的大小(xiǎo)及均勻性，是最直接、最準确的測量方法，但是需要購(gòu)買昂貴的電(diàn)子顯微鏡設備，養護費用(yòng)也很(hěn)高，測試過程耗時長(cháng)，使用(yòng)成本比較高。

需要說明的是，上述幾種方法在測量同一矽溶膠樣品時得到的粒徑結果并不一緻。

滴定法在6-20nm範圍内比較準确，測量結果與TEM結果比較接近，但是當矽溶膠粒徑增大到20nm以上時其測量結果與TEM之間就會有(yǒu)明顯的差異，随着矽溶膠粒徑的增大，滴定法越來越不準确。

激光粒度儀的測量偏差與滴定法正好相反，在矽溶膠粒徑偏小(xiǎo)的時候（例如小(xiǎo)于30nm）用(yòng)激光粒度儀測量的矽溶膠粒徑會偏大，随着矽溶膠粒徑的增大，激光粒度儀的測量結果越來越準确，當矽溶膠的粒徑達到100nm以上時其測量結果與TEM結果就很(hěn)接近。

因此，客戶咨詢矽溶膠的粒徑指标時要說明粒徑的測量方法。